Lean Six Sigma Black Belt - Ir.H.C. Theisens (ISBN: 9789492240286)
- Thuiswinkel Waarborg
Gevonden bij 1 winkel vanaf
€ 79,95
(minder betalen?)
Inhoud INLEIDING HOE DIT BOEK TE GEBRUIKEN VOORWOORD 1WORLD CLASS 1.1CONTINU VERBETEREN 1.1.1Geschiedenis van continu verbeteren 1.1.2Waarden en principes van continu verbeteren 1.1.3Continuous Improvement Maturity Model 1.1.4Rollen en verantwoordelijkheden 1.2KLANTWAARDE 1.2.1Voice of Customer (VOC) 1.2.2Critical to Quality (CTQ) 2POLICY DEVELOPMENT EN DEPLOYMENT 2.1POLICY DEVELOPMENT 2.1.1Visie en missie (True North) 2.1.2Transformatie roadmap 2.1.3Performance en financiële indicatoren 2.2POLICY DEPLOYMENT 2.2.1Verandermanagement 2.2.2Leiderschap 2.2.3Hoshin Kanri (X-matrix) 2.3COMPETENTIEONTWIKKELING EN COMMUNICATIE 2.3.1Lerende organisatie 2.3.2Coaching en intervisie 2.3.3Effectieve communicatie 3PROJECTMANAGEMENT 3.1MANAGEN VAN EEN PROJECT 3.1.1Project selectieproces 3.1.2Project charter 3.1.3Project team 3.1.4Project planning 3.1.5Project uitvoering 3.2ROADMAPS VOOR PROCESVERBETERING 3.2.1Kaizen-roadmap (PDCA) 3.2.2Lean Six Sigma roadmap (DMAIC) 3.2.3Problem solving roadmap (8D) 3.2.4Scrum 3.2.5Design for Six Sigma roadmap (DMADV) 4CIMM LEVEL I – CREËER EEN SOLIDE FUNDAMENT 4.1PROFESSIONELE WERKOMGEVING 4.1.1Georganiseerde werkomgeving (5S) 4.2GESTANDAARDISEERD WERK 4.2.1Standaarden en protocollen 4.2.2Training Within Industry (TWI) 4.3KWALITEITSMANAGEMENT 4.3.1Kwaliteitsmanagementsysteem CIMM ASSESSMENT LEVEL I – CREËER EEN SOLIDE FUNDAMENT 5CIMM LEVEL II – CREËER EEN CONTINUE VERBETERCULTUUR 5.1VISUEEL MANAGEMENT 5.1.1Visuele werkomgeving 5.2PERFORMANCE MANAGEMENT 5.2.1Prestatiedialoog en stand-up meetings 5.2.2Kaizen-events en problem solving 5.3BASIC QUALITY TOOLS 5.3.1Brainstormtechnieken 5.3.2Visualisatie van data CIMM ASSESSMENT LEVEL II – CREËER EEN CONTINUE VERBETERCULTUUR 6CIMM LEVEL III – CREËER STABIELE EN VOORSPELBARE PROCESSEN DEFINE 6.1PROCESS MAPPING 6.1.1High level procesbeschrijving en SIPOC 6.1.2Stroomdiagram MEASURE 6.2PRESTATIEMAATSTAVEN 6.2.1Prestatiemaatstaven (Tijd) 6.2.2Prestatiemaatstaven (Kwaliteit) 6.3BASIS STATISTIEK 6.3.1Data typen en meetschalen 6.3.2Technieken voor verzamelen van data 6.3.3Beschrijvende statistiek ANALYZE 6.4WAARDESTROOM ANALYSE 6.4.1Waardetoevoegend versus Niet-waardetoevoegend 6.4.2Value Stream Mapping (Current State) 6.4.3Process Mining IMPROVE 6.5VERMINDEREN VAN VERSPILLING (MUDA) 6.5.1Verspillingen identificeren en elimineren 6.6VERMINDEREN VAN OVERBELASTING (MURI) 6.6.1Flow 6.6.2Gebalanceerde werkbelasting 6.6.3Managen van resources 6.7VERMINDEREN VAN ONEFFENHEDEN (MURA) 6.7.1Pull 6.7.2Nivelleren van volume en type 6.7.3Omsteltijdreductie (SMED) 6.8WAARDESTROOM VERBETERING 6.8.1Value Stream Mapping (Future State) CONTROL 6.9BEHEERSBARE PROCESSEN 6.9.1First Time Right (FTR) 6.9.2Proces-FMEA (PFMEA) 6.9.3Control plan 6.10TOTAL PRODUCTIVE MAINTENANCE (TPM) 6.10.1TPM principes 6.10.2Overall Equipment Effectiveness (OEE) CIMM ASSESSMENT LEVEL III – CREËER STABIELE EN VOORSPELBARE PROCESSEN 7CIMM LEVEL IV – CREËER CAPABELE PROCESSEN MEASURE 7.1STATISTISCHE TECHNIEKEN 7.1.1Variatie 7.1.2Steekproefmethodes 7.1.3Kansdefinitie 7.2KANSVERDELINGEN 7.2.1Continue kansverdelingen 7.2.2Discrete kansverdelingen 7.2.3Data transformatie betreffende niet-normale data 7.3MEETSYSTEMEN 7.3.1Meetsysteemanalyse (MSA) 7.3.2Attribute Agreement Analysis ANALYZ 7.4HYPOTHESETOETSING EN BETROUWBAARHEIDSINTERVALLEN 7.4.1Hypothesetoetsing 7.4.2Betrouwbaarheidsintervallen 7.5TOETSEN VOOR GEMIDDELDEN, PROPORTIES EN VARIANTIES 7.5.1Toetsen voor gemiddelden 7.5.2Toetsen voor varianties 7.5.3Variantieanalyse (ANOVA) 7.5.4Toetsen voor proporties 7.5.5Chi-kwadraattoets 7.5.6Niet-parametrische toetsen 7.6CORRELATIE EN REGRESSIE 7.6.1Correlatiecoëfficiënt 7.6.2Regressieanalyse 7.6.3Logistische regressieanalyse 7.6.4Multivariate studies 7.7PROCES-CAPABILITY EN PERFORMANCE 7.7.1Proces-capability388 7.7.2Kortetermijn versus langetermijn capability 7.7.3Proces-performance396 7.7.4Proces-capability voor attributieve data IMPROVE 7.8DESIGN OF EXPERIMENTS (DOE) 7.8.1Principes en terminologie 7.8.2Two-level Full Factorial experiment 7.8.3Two-level Fractional Factorial experiments 7.8.4Response Surface Modeling CONTROL 7.9STATISTISCHE PROCESBEHEERSING 7.9.1Regelkaarten 7.9.2Testen op bijzondere variatie CIMM ASSESSMENT LEVEL IV – CREËER CAPABEL PROCESSEN 8CIMM LEVEL V – CREËER TOEKOMSTBESTENDIGE PROCESSEN 8.1PRODUCT LIFECYCLE MANAGEMENT (PLM) 8.1.1Productlevenscyclus 8.1.2Innovatiemanagement 8.2DESIGN FOR SIX SIGMA 8.2.1Design for X (DFX) 8.2.2Quality Function Deployment (QFD) 8.2.3Design FMEA (DFMEA) 8.2.4Reliability 8.2.5Tolerantieanalyse 8.3DE VIERDE INDUSTRIËLE REVOLUTIE 8.3.1Industry 4.0 CIMM ASSESSMENT LEVEL V – CREËER TOEKOMSTBESTENDIGE PROCESSEN BIJLAGE A – THEORIE-EXAMEN BIJLAGE B – PRAKTIJKEXAMEN BIJLAGE C – STATISTISCHE TABELLEN STANDARDIZED NORMAL DISTRIBUTION STUDENT’S T-DISTRIBUTION CHI-SQUARE DISTRIBUTION F-DISTRIBUTION BINOMIAL DISTRIBUTION POISSON DISTRIBUTION BIJLAGE D – KENTALLEN VOOR REGELKAARTEN BIJLAGE E – SIX SIGMA CONVERSIETABELLEN BIJLAGE F – REFERENTIES BIJLAGE G – AFKORTINGEN INDEX